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        產品名稱:

        外延片測溫儀

        描述:Sekidenko OR400M 外延片測溫儀可選波長3.3或5.2μm,具有RS232數字輸出和模擬輸出接口,適用于薄膜太陽能,玻璃,半導體工藝溫度的精確測量。
        訪問次數: 1704
        更新時間: 2023-04-14

        產品介紹

        Sekidenko OR400M 外延片測溫儀主要特點

        • 自動環境溫度校準

        • 結構緊湊,易于集成

        • 高速固態光電探測器

        • 薄膜光伏電池生產過程的實時測量

        • 可配置的濾光片,探測器和光學傳輸系統

        詳細說明

        OR400M 單通道中波光學高溫計用于需要更長波長的半導體應用,例如測量真空室內的石英。高溫計安裝在腔室外通過視窗進行非接觸式測量。

        由于玻璃具有*的透射特性,因此測量玻璃溫度必須選擇更長的波長(通常在5 µm以上)。這些波長使高溫計可以“看見”玻璃基板,而不是透過玻璃測量對側的物體或薄膜的輻射。OR400M 可在5.2 µm工作波段下對基于玻璃的應用(包括高雜散光背景存在情況)進行的精確測量

        OR400M光學高溫計可選用3.3 µm的近紅外波段和5.2 µm的中紅外波段。該設備的波長范圍非常適合光伏(PV)太陽能應用中疊層PV電池組中的特定層溫度的測量。PV電池層包括TCO(透明導電氧化物)層,鉬背面接觸層以及CIGS(硒化銅銦鎵)或CdTe(碲化鎘)沉積層。 為了選擇正確的波長來測量每層的溫度,必須考慮以下幾點:

        • 層的透射率屬性

        • 層的厚度

        • 層的發射率

        • 背景雜散光對測試的影響

         

        技術參數

        通用參數

        配置

        單通道溫度測量

        溫度范圍

        50 至 1300°C

        波長3.3 和 5.2 µm ,可訂制
        讀取速率高達 250 Hz
        測溫精度±3°C

        重復精度

        ±0.1°C

        分辨率0.01°C
        接口
        屏幕顯示無,可通過RS232設置
        數據 I/O高達115 kB的 RS-232 輸出
        模擬輸出0 至 10 V 或 4 - 20 mA
        電參數

        輸入電壓

        AC: 90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz

        DC: +24 VDC

        環境參數
        使用環境15 to 40°C (64 to 104°F), 非凝露
        物理特性
        物理尺寸

        32 mm (H) x 57 mm (W) x 235 mm (D)

        1.26" (H) x 2.30" (W) x 9.26" (D)

        重量0.39 kg (0.87 lb)
        安裝框架安裝,安裝塊上有安裝孔;有關更多信息,請參考手冊。
        電源線電流100 VAC時,小于0.7A

        Sekidenko OR400M 外延片測溫儀

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